ハードディスク、MEMS、半導体分野

  • 段差測定 +


    段差の正確で繰り返し可能な測定は、多くのハイテク分野で求められています。テーラーホブソンは、ステップ高測定で最も厳しい要求に応えるよう設計された多くの機種をご提供します。 read more.

  • MEMSとナノテクノロジー +


    マイクロエレクトロメカニカルシステムズ(MEMS)は今日多数の用途に使用されていますが、中でも圧力センサー、加速度センサー、マイクロミラーディスプレイ装置、流体マイクロポンプが挙げられます。 read more.

  • レーザーエッチング測定 +


    レーザーエッチングは、集積回路の識別マーキングに使用される優れた方法の1つです。これは、レーザーマーキングが識別の改ざんを防止する方法であるためでもあります。改ざん防止マーキングは、偽造IC、すなわち、製造目標の速度や仕様をより高く偽ったICの販売削減に大きく貢献しました。 read more.

  • エピウェハー測定 +


    電気通信とディスプレイ技術の両方の分野で電気光学部品の使用が今や一般的となったことにより、エピタキシは部品製造の重要技術となりつつあります。エピタキシとは、単結晶の基板表面に半導体材料の薄い膜を生成させる処理です。 read more.

  • ICパッケージ測定 +


    バックエンド処理測定は、ICパッケージの最終品質管理に重要です。ICパッケージ処理時に問題があると、ICはんだ付け時に接触不良の原因となる可能性があり、ワイヤーボンドが外れたりチップ接触面に隆起ができ、ICの回路にかかるストレスを増加させます。 read more.