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テーラーホブソンは、表面形状測定技術の分野において最高水準の精度を実現する超高精度技術企業です。急速に発展する当分野の最前線にあるために研究開発に積極的に投資を続け、従業員の20％が弊社製品の開発および保守に携わっています。
研究
テーラーホブソンは長期的な観点に基づいた応用研究に投資することにより、表面形状測定技術で長年にわたって業界をリードしてきました。弊社の研究チームには、物理光学および幾何光学、薄膜、コンピュータシミュレーション、超精度工学、メカニカルモデリングおよび数学を専門とする科学者がいます。
ハッダーズフィールドおよびノッティンガムの諸大学、HUST(武漢、中国)、英国のNPL(国立物理学研究所)やドイツのPTB(物理技術研究所)、米国のNIST(全米標準技術研究所)を含む国立測定研究所、さらにはASPE(全米精密工学会)、SPIE(国際光工学会)およびEUSPEN(ヨーロッパ精密工学およびナノ テクノロジー学会)を含む企業団体など、主要な学術機関との緊密な関係を通じて研究を活用します。
テーラーホブソンはリーアム・ブラント教授率いるハッダーズフィールド大学の精密技術センター(Centre for Precision Technology)と公式な提携関係を締結しています。このグループはテーラーホブソンに代わって、多くの最先端研究プロジェクトおよび高度な表面解析ソフトウェアに取り組んでいます。ブラント教授とそのチームの研究詳細についてはここ(cpt.hud.ac.uk)をクリックしてください。
干渉分光法と非接触計測
弊社には70年代初頭から続く干渉分光法(インターフェロメトリ)での長い歴史があります。干渉計を用いた最初の製品は1984年に発表されました。弊社はシリンダ内径検査用の画像解析システムを製造しています。弊社の最新の非接触測定機CCI(新しいコンセプトの広帯域干渉計使用法)は業界をリードする最先端のパフォーマンスを提供します。弊社の最初の触針式測定機も、ゲージ変位を判定するために、フォームタリサーフ "PGI"という名称の由来となるPhase Grating Interferometer(位相格子干渉計)を使用しています。
超研磨表面の計測に取り組むために新しいCMOSカメラの使用と、走査手順および解析手順の改良によりノイズを改善してきました。平均測定時間2分以内で鏡を測定する場合、高空間周波数のノイズ指数が今では10pm rmsになっています。
触針式計測
弊社の歴史は触針式計測にあります。フォームタリサーフ製品ラインナップを更新するために膨大な投資を行ってきました。新型フォームタリサーフ PGI 1240は、業界標準となっています。
また弊社の真円度製品は絶えず進化しています。また継続的に機器仕様を改善し、機能を追加しています。
知的財産
さらに前進するため、弊社は社内および多数の学術研究機関の両方で基礎研究に投資しています。弊社が最適なテクノロジーを常に利用できるよう、多くの国立計測機関と協力しています。
弊社は特許を取得することによって研究開発投資を保護します。最近の特許件数は90件を超え、世界の多くの国で登録されています。
カスタムソリューション
弊社の標準製品ではユーザーの測定/製造問題を解決できないこともあります。弊社は設計製造サービスを提供してカスタム製品をお届けします。弊社はこのようなソリューションを毎月多数完成しています。一般的な製品は以下のものがあります:
一般的な製品は以下のものがあります:
- 超高精度機器や国家レベル測定期間・研究所向け測定システム
- 現場用測定システム
- 顧客特殊仕様測定解析
- ダイヤモンド旋盤
- 弊社標準品の機能強化
- 特殊治具
将来の展望
ナノテクノロジーは昨今の流行語です。この言葉の背後にあるものは、製造において、より小さく、より精密に、より高度に加工された表面へという劇的な変化を意味します。テーラーホブソンはこれらの課題に応えるため、継続的に技術開発を進めています。
超平滑面の計測に取り組むため、リサーチチーム内でCCIを進化させてきました。新しいCMOSカメラの使用と、走査手順および解析手順の改良でシステムノイズを低減してきました。平均測定時間2分以内で鏡面を測定する場合、今では高空間周波数のノイズが10pm rmsに到達しています。
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