テーラーホブソン事業部 OPIE ‘22 出展のお知らせ

火曜日, 3月 22, 2022

平素より格別のお引き立てを賜り厚く御礼申し上げます。

テーラーホブソンはOPIE ‘22に出展します。
2022年4月20日〜22日
ブース番号:H-02
日本で光学とフォトニクスの分野で最大級の専門展示会に出展します。
3次元非接触形状測定機「LUPHOScan」シリーズについて、大径レンズ向けの850HDから小径レンズ向けの50SLまで、当社の技術エキスパートが現地にてご紹介いたします。

詳細はこちらから


OPIE ’22は、日本で光学とフォトニクスの分野で有数かつ最大の見本市の1つです。
弊社の技術エキスパートが新しい非接触式3D形状測定機について紹介致します。
従来モデルからの改善点や測定精度の実証テスト結果など、ここでしか聞けない情報満載の無料セミナーも開催予定です。(申込期限:4月14日)

当事業部では以下の製品を紹介します。

LUPHOScan 850 HD
直径850 mmまでの測定範囲を有する世界で最も用途の広い非接触式3D形状測定機。
世界的に有名なLUPHOScan HDシステムを基盤に設計されており、大型で複雑な光学アプリケーションを対象に高精度で安定した
非接触計測を提供します。

LUPHOScan 50 SL
スマートフォンなどの小型レンズの非接触形状測定に特化した世界最速かつ正確な測定機。
この装置の利点は幾何学的レンズのインターロック面の真円度、フラットレンズの平面度やこれらに対する嵌合面の位置情報
などを高速で正確に計測する事が出来、大量生産現場に最適です。
セミナーのお申し込みはこちらから (4月21日 14:30 - 15:15 アネックスホール F 206)
OPIE’22 - 光とレーザーの最新技術・製品・情報が集結!|株式会社オプトロニクス社 (optronics.co.jp)